使用测量仪器响应函数进行信号反卷积的贝叶斯分析
摘要：使用测量的仪器响应函数进行数据反卷积是已知的不确定性源。本研究重新考虑了这个问题，采用贝叶斯数据分析和蒙特卡洛模拟。通过卷积运算符引起的噪声相关性被确定为主要的不确定性源，而在先前对这个问题的处理中被忽略了。对荧光寿命测量设置的应用表明，现有的近似处理方法明显不足，噪声的相关长度与需要估计的寿命直接相关。提出了简单的对抗性处理方法来提高该程序的准确性。
作者：Pascal Pernot (LCPO)
论文ID：physics/0604154
分类：Data Analysis, Statistics and Probability
分类简称：physics.data-an
提交时间：2007-05-23