高分辨率跟踪系统的光学多GEM探测器
摘要：气体电子倍增器薄膜中铜电极的控制性腐蚀可将三重GEM探测器的物质成本减少两倍以上。使用薄膜的探测器的性能与标准设备相似：双GEM的增益超过10^4，对5.9 keV X射线的能量分辨率为27% FWHM。
作者：A.Bondar, A.Buzulutskov, R.de Oliveira, L.Ropelewski, F.Sauli and L.Shekhtman
论文ID：physics/0511037
分类：Instrumentation and Detectors
分类简称：physics.ins-det
提交时间：2008-11-26