强激光场中与几何和衍射无关的电离概率：用有效强度匹配探测原子电离机制
摘要：一种用于超快激光脉冲电离过程比较的新型实验技术：基于有效强度匹配 (EIM) 和强度选择性扫描 (ISS) 的方法对50fs、790nm的线偏振和圆偏振激光脉冲下的氙多电离进行观察，覆盖了10TW/cm^2到10PW/cm^2的强度范围。该方法可去除脉冲椭圆度的影响，恢复与几何无关的电离概率。通过量化激光聚焦中的衍射效应，将实验测量结果与多光子、隧穿和场电离的理论预测进行直接比较，得出了显著的一致性。EIM-ISS方法可以直接量化线偏振激光脉冲中再碰撞电离的概率。此外，通过Keldysh绝热参数gamma来讨论电离概率，并首次观察到了再碰撞电离中存在的前驱离子态的影响。
作者：W. A. Bryan, S. L. Stebbings, E. M. L. English, T. R. J. Goodworth, W. R. Newell, J. McKenna, M. Suresh, B. Srigengan, I. D. Williams, I. C. E. Turcu, J. M. Smith, E. J. Divall, C. J. Hooker, A. J. Langley
论文ID：physics/0509121
分类：Atomic Physics
分类简称：physics.atom-ph
提交时间：2007-05-23