频率扫描干涉测量用于ILC跟踪器对准
摘要：用频率扫描干涉法利用一对单模光纤，进行高精度绝对距离和振动测量。通过计数扫描激光频率时产生的干涉条纹来确定绝对距离。利用高附加器Fabry-Perot干涉仪来确定扫描过程中的频率变化。开发了两种多距离测量分析技术，以提高距离精度和提取振动的幅度和频率。在实验室条件下，利用第一种多距离测量技术，在绝对距离为0.1米至0.7米范围内，实现了约50纳米的测量精度。第二种分析技术能够测量从0.1赫兹到100赫兹的振动频率，振幅小至几纳米，无需先验知识。还提出了一种可能的硅追踪器光学对准系统。
作者：Hai-Jun Yang, Sven Nybery, Keith Riles
论文ID：physics/0506197
分类：Instrumentation and Detectors
分类简称：physics.ins-det
提交时间：2008-11-26