低压气体中带电粒子轨迹的微观特征成像

摘要:用于测量低压气体中带电粒子轨迹的成像系统的展示。该方法基于光学读出的时间投影室。展示了使用高速重离子进行实验的结果。

作者:V.Dangendorf, H.Schuhmacher, U. Titt, K. Tittelmeier

论文ID:physics/0410260

分类:Instrumentation and Detectors

分类简称:physics.ins-det

提交时间:2007-05-23

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