EIT重建算法:陷阱、挑战与最新发展

摘要:电阻抗断层成像(EIT):发展、问题和挑战,以及三维数据采集和重建的必要性、正问题的高效解决方案以及现有和未来的重建算法综述。避免常见陷阱或“反问题犯罪”的建议。

作者:William R.B. Lionheart

论文ID:physics/0310151

分类:Medical Physics

分类简称:physics.med-ph

提交时间:2008-07-31

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