光衍射-过渡辐射干涉测量及其在束流发散度中的应用
摘要：用光学过渡辐射干涉法（OTRI）已被证明是一种非常有用的技术，可用于测量能量在15-100 MeV范围内的电子束的散度。然而，将此方法应用于低能或非常高质量的束流受限于干涉仪前箔的散射。为克服这个限制，我们建议使用有孔前箔。对于我们考虑的束流能量和孔的尺寸，穿过孔的未散射的束流电子将产生衍射辐射（ODR）。然后，从第一和第二箔产生的总辐射将是未散射和散射电子的ODR和OTR的空间相干和。通过控制孔的数量和尺寸，箔间距，第一箔的厚度以及观测辐射的波长和带通，可以分离和观察束流未散射部分引起的相干干涉效应。然后可以利用这些干涉的可见性来确定密集带的束流散度。我们开发了一个通用计算机代码，可用于计算任何类型的穿孔的衍射辐射，并使用另一个代码来计算给定一组束流和光学参数的ODR-OTR干涉图样。这些代码用于设计一个用于测量30 MeV下ATF加速器的散度的干涉仪。该束流将被用于ODR-OTR干涉仪的初步验证实验。我们呈现了代码计算的结果，显示预期散度（200微弧度）可以容易地测量。
作者：A.G.Shkvarunets, R.B.Fiorito and P.G.O'Shea
论文ID：physics/0112032
分类：Accelerator Physics
分类简称：physics.acc-ph
提交时间：2007-05-23