XAFS光谱学。I. 从吸收光谱中提取细微结构
摘要：从吸收光谱中分离出细小结构的三种独立技术，其中的背景函数用(i)平滑样条逼近。我们提出了一个新的可靠准则来确定平滑参数，并提出了一种提高对k_min变化稳定性的方法；(ii)具有不同节点的插值样条函数；(iii)贝叶斯平滑得到的线。这些方法考虑了各种先验信息，包括确定XAFS提取误差的自然方法。对XAFS数据的不确定性估计给予了特别关注。实验噪音显示出比背景逼近误差实质上更小，后者决定了后续拟合中结构参数的方差。
作者：K. V. Klementev (Moscow Engineering Physics Institute)
论文ID：physics/0003086
分类：Data Analysis, Statistics and Probability
分类简称：physics.data-an
提交时间：2009-11-06