两个寿命和伪能隙对Zn取代La{1.85}Sr{0.15}CuO{4}的轨道磁电阻的影响
摘要：掺杂锌对正常态下磁电阻和霍尔效应的异常温度依赖性产生了影响。研究了一系列La{1.85}Sr{0.15}Cu{1-y}Zn{y}O{4}薄膜，其中y的取值在零到0.12之间。发现高温下的轨道磁电阻与Hall角的正切平方成比例，这符合两个弛豫率模型的预测，适用于所有掺杂了锌的样品，包括非超导薄膜。比例常数独立于掺杂，等于13.7+/-0.5。这与欠掺杂的La{2-x}Sr{x}CuO{4}薄膜中观察到的行为有很大不同，其中x的减小会破坏比例关系。此外，低温下轨道磁电阻的行为发现在改变x或y时有所不同。我们认为这些差异反映了两种情况下赝带演化的不同。
作者：A. Malinowski, A. Krickser, Marta Z. Cieplak, S. Guha, K. Karpinska, M. Berkowski and P. Lindenfeld
论文ID：cond-mat/9903080
分类：Condensed Matter
分类简称：cond-mat
提交时间：2007-05-23