高氯酸盐掺杂聚乙炔中电阻率的金属温度依赖性
摘要：铝酸盐(ClO4^-)掺杂的拉伸定向聚乙炔(PA)薄膜的电阻率($\rho$)和热电势(TEP)已被测量。对于高导电样品($\sigma_{RT} > 41000 S/cm$)，4探针电阻率的温度依赖性显示从T = 1.5K到300K的正温度系数的电阻率(TCR)。对于较低导电的样品，4探针电阻率数据显示TCR的交叉点，在T = T* > 200K时有一个广泛的最小值峰值。对于$\sigma_{RT} > 20000 S/cm$的样品，$ \rho (1.5K) / \rho (300K) < 1$，即在1.5K时的电阻率低于室温时的电阻率值。TEP的温度依赖性显示扩散线性金属TEP在低于40K时不受温度影响。与其他使用Cu(ClO\_4)\_2进行ClO\_4^-掺杂的研究不同，我们使用的最初的掺杂材料是无水Fe(ClO\_4)\_3，这对于获得从T = 1.5K到300K的正TCR是至关重要的。
作者：Y. W. Park, E. S. Choi, D. S. Suh
论文ID：cond-mat/9809106
分类：Condensed Matter
分类简称：cond-mat
提交时间：2007-05-23