半导体量子线纳米结构中的定位
摘要：准一维量子线纳米结构的定位特性：基于传输矩阵-Lyapunov指数技术研究。我们计算了定位长度，并将其作为有效平均场迁移率的函数，假设随机障碍势来自掺杂引起的短程$delta$函数或有限范围的高斯杂质散射。定位长度与有效迁移率大致呈线性增长，并且有限范围的障碍也增强了定位长度。当化学势越过到第二能带时，定位长度急剧减少。
作者：Dongzi Liu and S. Das Sarma
论文ID：cond-mat/9501113
分类：Condensed Matter
分类简称：cond-mat
提交时间：2016-08-31