水平扫描模式下磁力显微镜在静磁和交流条件下对磁性薄膜材料的研究
摘要：横向扫描线性磁性薄膜的磁力显微镜逆问题的引入。我们通过使用Hankel（Fourier-Bessel）变换逆方法（HIM）从实验数据中恢复材料的磁渗透率的可能性。该方法也适用于分层薄膜。引入了与交流磁力显微镜相关的逆问题。
作者：Artorix de la Cruz de Ona and Nibaldo Alvarez Moraga
论文ID：cond-mat/0611060
分类：Other Condensed Matter
分类简称：cond-mat.other
提交时间：2007-05-23