原子力显微镜对波纹表面的量化纳米摩擦特性表征
摘要：原子力显微镜（AFM）是一种适用于纳米尺度材料摩擦特性表征的工具。对于具有波纹的样品进行纳米摩擦测量时，一个重要的问题是表面的局部倾斜度，这会影响AFM获取的侧向力图。这是现代纳米摩擦学中最重要的问题之一，使真实波纹表面的可靠和定量特性表征变得困难。因此，对于具有波纹的样品，需要纠正拓扑噪声对侧向力图的贡献。在本文中，我们提出了一种对AFM侧向力图进行拓扑修正的通用方法，并将其应用于多凸起粘附接触的案例。我们描述了一种完整的协议，用于在表面粘附情况下使用AFM量化表征波纹系统的摩擦特性。
作者：A. Podesta', G. Fantoni, P. Milani
论文ID：cond-mat/0302490
分类：Condensed Matter
分类简称：cond-mat
提交时间：2017-06-22