用X射线衍射显微镜成像电场
摘要：使用衍射基于X射线显微技术，可以成像绝缘晶体材料中的电场。通过分析一个典型的铁电和压电材料BaTiO3，我们发现了可以指导实验设计的趋势，以使用任何基于衍射的X射线显微技术成像电场。我们解释了这些趋势在暗场X射线显微技术的背景下，但这个框架也适用于Bragg扫描探针X射线显微技术、Bragg相干衍射成像和Bragg X射线相位成像。通过使用这些技术已经可以获得的缺陷和应变，能够定量化电场分布，为存在于许多绝缘和半导体材料中的常常复杂的结构-性能关系提供更全面的图像。
作者：Trygve Magnus R{ae}der, Urko Petralanda, Thomas Olsen, and Hugh Simons
论文ID：2308.16550
分类：Materials Science
分类简称：cond-mat.mtrl-sci
提交时间：2023-09-01