光子禁带拓扑性质的直接确定：一种基于色散测量的框架
摘要：从光子禁带的绝对拓扑特性中获取信息需要关于布洛赫本征函数的空间分布。因此，实验研究主要限制在体-边对应原理和由此产生的拓扑表面态的研究上。虽然能够确定能隙的等价性或非等价性，但其绝对的拓扑身份的确定仍不在其范围之内。基于反射相位的识别的替代方法，由于干涉仪设置的测量复杂性而仅提供有争议的改进。为了克服这些限制，我们采用克拉默-克罗尼希幅相因果性考虑，并提出一种从参数反射率测量直接确定能隙拓扑特性的实验方法。特别地，已经证明在一维光子晶体中，极化分辨的色散测量足以在定性上确定能隙的绝对拓扑身份。通过调用被研究样本的平移不变性，我们还定义了一个涵盖能隙拓扑身份并导致实验上可辨认的能隙分类器的参数差分有效质量。
作者：Nitish Kumar Gupta, Sapireddy Srinivasu, Mukesh Kumar, Anjani Kumar Tiwari, Sudipta Sarkar Pal, Harshawardhan Wanare, S. Anantha Ramakrishna
论文ID：2308.14073
分类：Optics
分类简称：physics.optics
提交时间：2023-08-29