自洽自相关用于粗糙度测量中的有限区域偏差校正
摘要：扫描线水平化，在原子力显微镜数据处理中是普遍而常见的步骤，可能会对测量的粗糙度参数（如均方粗糙度或相关长度）造成严重的偏差。本研究利用观察到的自相关函数（ACF）的偏差，以函数本身表达，从而建立了自洽的问题表述。利用这个表述，提出了两种校正方法，目标都是获得便利的公式，可应用于实际校正。第一种修改ACF的标准解析模型，以期望的方式包含偏差，并使其与用于拟合模型的数据的偏差相匹配。第二种将真实ACF与估计ACF之间的关系反转，实现无模型校正。
作者：David Nev{c}as
论文ID：2308.11304
分类：Data Analysis, Statistics and Probability
分类简称：physics.data-an
提交时间：2023-08-23