测试时间适应用于后门防御

摘要:在测试时间利用部分受污染的数据去除深度神经网络的后门防御方法的研究.

作者:Jiyang Guan, Jian Liang, Ran He

论文ID:2308.06107

分类:Cryptography and Security

分类简称:cs.CR

提交时间:2023-08-14

PDF 下载: 英文版 中文版pdf翻译中