集成陷阱的硅光倍增管在低温彭宁陷阱中的荧光检测
摘要：基于4K下运行的硅光电倍增管（SiPM）的激光冷却9Be+离子的荧光检测系统。我们的方法使得在有限的光学可达性下，能够在密封的低温宁株捕获室中进行荧光检测，而在常温下使用望远镜和光电倍增管进行检测将会非常困难。我们在4K的冷却器中对SiPM的性能进行了表征，其中我们测量到的暗计数率低于1/s，检测效率为2.5(3)％。我们进一步讨论了我们低温荧光检测陷阱的设计，并通过实验运行期间对9Be+离子云的荧光光谱学进行了检测系统的性能分析。
作者：Markus Wiesinger, Florian Stuhlmann, Matthew A. Bohman, Peter Micke, Christian Will, H"useyin Yildiz, Fatma Abbass, Bela P. Arndt, Jack A. Devlin, Stefan Erlewein, Markus Fleck, Julia I. J"ager, Barbara M. Latacz, Daniel Schweitzer, Gilbertas Umbrazunas, Elise Wursten, Klaus Blaum, Yasuyuki Matsuda, Andreas Mooser, Wolfgang Quint, Anna Soter, Jochen Walz, Christian Smorra and Stefan Ulmer
论文ID：2308.02365
分类：Atomic Physics
分类简称：physics.atom-ph
提交时间：2023-08-07