基于WS$\_2$材料的硬件安全器件的变异性实验分析
摘要：基于硫化钨（WS2）的器件的可变性在硬件安全领域的可能应用中通过实验性表征进行了研究。为此，对一组七个Si/SiO2/WS2背栅器件进行了电压和温度测量的初步分析，并考虑了不同稳定条件对其电导率的影响。所得结果显示了电导率的可观变异性，同时还揭示了所测试器件之间的偏置和温度依赖性的相似性。总体而言，我们的分析表明，基于WS2的器件可以潜在地被用于确保足够的随机性和对环境变化的鲁棒性，并用作硬件安全基元的构建模块。
作者：M. Vatalaro, H. Neill, F. Gity, P. Magnone, V. Maccaronio, C. M''arquez, J.C. Galdon, F. Gamiz, F. Crupi, P. Hurley, R. De Rose
论文ID：2308.02265
分类：Emerging Technologies
分类简称：cs.ET
提交时间：2023-08-30