一个高分辨率的不对称 von Hamos 光谱仪用于 CRYRING@ESR 电子冷却器的低能量 X 射线光谱学
摘要：基于电子冷却器在Darmstadt正在建设的国际反质子和离子研究设施（FAIR）中，我们提出了一种高分辨率波长色散光谱仪的研究计划和项目，该仪器专用于低能量X射线光谱学。由于电子冷却器中电子和离子束的重叠，导致电子离子复合X射线源的独特形状，该光谱仪可以在特定的非对称von Hamos（AvH）几何结构下工作。为了完全消除多普勒效应对测量X射线能量的影响，将在电子冷却器两侧的偶极磁铁旁安装两个非对称的von Hamos光谱仪，用于探测蓝/红（0°/180°）移位的X射线，例如，在辐射复合（RR）过程中发射的X射线。X射线追踪蒙特卡洛模拟显示，所提出的AvH光谱仪将能够以亚毫电子伏的精度确定与冷却电子相互作用的存储裸或少电子重离子发射的低能量X射线（5-10 keV）。这种实验精度将使得对中等质量Z的H-和He-类离子中的量子电动力学（QED）效应进行准确的研究成为可能。
作者：P. Jagodzi''nski (1), D. Bana''s (1), M. Pajek (1), A. Kubala-Kuku''s (1), {L}. Jab{l}o''nski (1), I. Stabrawa (1), K. Szary (1), D. Sobota (1), A. Warczak (2), A. Gumberidze (3), H.F. Beyer (3), M. Lestinsky (3), G. Weber (3), Th. St"ohlker (3 and 4) and M. Trassinelli (5) ((1) Institute of Physics, Jan Kochanowski University, Kielce, Poland, (2) Institute of Physics, Jagiellonian University, Krak''ow, Poland, (3) GSI Helmholtzzentrum f"u Schwerionenforschung, Darmstadt, Germany, (4) GSI Helmholtz-Institut, Jena, Germany, (5) Institut des NanoSciences de Paris (INSP), CNRS, Paris, France)
论文ID：2308.02216
分类：Atomic Physics
分类简称：physics.atom-ph
提交时间：2023-08-07