导电原子力显微镜中地形依赖电流的研究及校准方法
摘要：改进了具体AFM技术的背景下，基于表面凹凸的扫描有可能对CAFM扫描中测量的电流产生影响，这将导致对样品电导率的不准确估计。在此研究中，我们研究了在CAFM测试中探针和样品之间电容变化引起的与表面凹凸相关的电流。基于电流与从地形映射中导出的高度的一阶导数之间的线性关系，提出了校准方法来消除由样品表面高度变化引起的电流误差。这种方法在一维ZnO纳米线，二维NbOI2薄片和生物莲叶上进行了评估，进一步证明了这种方法的可行性和普适性。这项工作有效地解决了CAFM表征中的地形串扰的挑战，为需求高精度CAFM测量的研究提供了显著的好处。
作者：Chunlin Hao, Hao Xu, Shiquan Lin, Jinmiao He, Bei Liu, Yongqiu Li, Jiantao Wang, Yaju Zhang, and Haiwu Zheng
论文ID：2307.09840
分类：Applied Physics
分类简称：physics.app-ph
提交时间：2023-09-01