直接X射线散射信号测量在边缘照明/光束追踪成像中及其与折射信号方差的相互作用
摘要：X射线暗场或超小角散射成像自相位X射线成像引入后变得越来越重要，并在体内肺部成像和爆炸物检测等领域产生了转变性影响。在这里，我们展示了使用边缘照明方法获得的暗场图像（无论是传统的双屏蔽还是简化的单屏蔽实现）提供了散射函数的直接测量，不受自相关长度等系统特定参数的影响。我们展示了这既是特定的测量设置的结果，也是通过检索暗场图像所遵循的数学方法的结果。我们展示了与同步辐射和实验室X射线源获取的数据集的理论模型一致性。我们还介绍了一种新的对比机制，即折射的方差，它从相同的数据集中提取出并与散射中心的尺寸直接相关。我们展示了这也可以用相同的理论模型描述。我们研究了两种信号与X射线能量和散射体半径等关键参数的行为。我们发现这允许在成像过程中进行定量、直接、多尺度的散射测量，对于使用暗场成像的所有领域都具有意义。
作者：Ian Buchanan, Silvia Cipiccia, Carlo Peiffer, Carlos Navarrete-Le''on, Alberto Astolfo, Tom Partridge, Michela Esposito, Luca Fardin, Alberto Bravin, Charlotte K Hagen, Marco Endrizzi, Peter RT Munro, David Bate, Alessandro Olivo
论文ID：2307.06301
分类：Optics
分类简称：physics.optics
提交时间：2023-07-13