费米实验室PIP-II项目中pHB650功率耦合器天线的交通疲劳测试
摘要：PIP-II项目将从欧洲把低温模块运往美国，因此运输过程中可能出现的冲击会对内部组件造成风险。特别关注的是耦合器陶瓷窗和周围钎焊处，在激发事件中会承受应力。由于天线设计是新的，并且由于失败会导致的挫折，为天线设计了循环应力测试。本文介绍了该测试的实验方法、设置和结果。
作者：J. Helsper (1), S. Chandrasekaran (1), J. Holzbauer (1), N. Solyak (1) ((1) Fermilab)
论文ID：2307.05778
分类：Accelerator Physics
分类简称：physics.acc-ph
提交时间：2023-07-13