K-X射线强度比作为涂层层检测和厚度测量的工具
摘要：通过ED-XRF (能量色散X射线荧光)测量和FLUKA模拟，讨论了识别涂层层厚以及其厚度测量的可能性。本研究分析了不同厚度镀银的铜样品中$I\_{Kalpha}$(Cu)/$I\_{Kalpha}$(Ag)强度比，以及$I\_{Keta}$(Ag)/$I\_{Kalpha}$(Ag)和$I\_{Keta}$(Cu)/$I\_{Kalpha}$(Cu)。结果显示这些因数与银涂层厚度之间存在强烈的依赖关系。测量结果显示该方法在考古学中的应用性能。由于在古代银器测试中使用非破坏性方法可能无法获得可靠的整体结果，仅适用于表面分析，测量的强度比可以作为估算表面银增厚度的工具。
作者：Aneta Maria G''ojska, Ewelina Agnieszka Mi''sta-Jakubowska, Karol Kozio{l}, Adam Wasilewski, Ryszard Diduszko
论文ID：2306.14526
分类：Atomic Physics
分类简称：physics.atom-ph
提交时间：2023-06-27