辐照LGAD在ATLAS HGTD的束流测试中的破坏性击穿研究
摘要：辐照后的LGAD传感器在低于其安全运行电压的情况下被观察到出现典型的星形烧伤痕迹。本研究旨在确定这些传感器能够承受的安全工作电压。ATLAS高粒度定时探测器(HGTD)的束流测试中，来自不同生产商的多个辐照传感器在德国 DESY（汉堡）和瑞士CERN-SPS（日内瓦）的两个测试束流设施中进行了测试。样品放置在束流中，并在较长的时间内施加偏置电压，以使每个传感器经过的粒子数量达到较高水平。两个束流测试得出了相似的结论，即当传感器内的平均电场大于每微米12伏特时，这些破坏性事件开始发生。
作者：L. A. Beresford, D. E. Boumediene, L. Castillo Garc''ia, L. D. Corpe, M. J. Da Cunha Sargedas de Sousa, H. El Jarrari, A. Eshkevarvakili, C. Grieco, S. Grinstein, S. Guindon, A. Howard, G. Kramberger, O. Kurdysh, R. Mazini, M. Missio, M. Morenas, O. Perrin, V. Raskina, G. Saito, S. Trincaz-Duvoid
论文ID：2306.12269
分类：Instrumentation and Detectors
分类简称：physics.ins-det
提交时间：2023-07-17