任意数量的圆柱形导电圆筒的散射的谱积分方法（SIM）
摘要：精确的谱积分法（SIM）用于分析多个圆形完美导体（PEC）圆柱体的散射。它使用傅里叶级数和加法定理解耦合的系统，通过求解耦合表面积分方程。该方法具有指数收敛性，因此误差随着表面采样密度呈指数级下降，并且只需要每个波长约2-3个采样点（PPW）即可达到工程准确度，误差小于1\%。数值结果表明，与矩量法（MoM）相比，SIM更准确高效，因此可以作为有限元和谱元方法中的精确辐射边界条件。
作者：Qing Huo Liu, Siwei Wan, and Chunhui Zhu
论文ID：2305.11434
分类：Computational Physics
分类简称：physics.comp-ph
提交时间：2023-05-22