使用有限数量的投影图像实现快速X射线计算机断层扫描用于尺寸计量
摘要：通过小量投影图像的获取，本文讨论了一种新的方法，实现了快速X射线计算机断层扫描（XCT）。采用了成熟的总变差（TV）算法来处理重建过程。研究了在重建过程中使用大大减少的投影图像数量的可行性。这使得典型的工业XCT系统的测量时间从52分钟缩短到1分钟，并且能够相应地减小数据大小。测试方法包括定量和定性测试指标，定量评估使用不同内部和外部几何结构的参考样本，定性评估包括信噪比和对比噪声比。模拟数据被用于考虑各种影响因素，如X射线源的属性和仪器噪声。结果表明，使用先进的重建算法处理具有极少投影图像进行尺寸测量的XCT测量是可能的。
作者：Wenjuan Sun, Stephan Chretien, Ander Biguri, Manuchehr Soleimani, Thomas Blumensath, Jessica Talbott
论文ID：2305.10129
分类：Applied Physics
分类简称：physics.app-ph
提交时间：2023-05-18