电子设计自动化中贝叶斯方法评述
摘要：电子集成电路（IC）设计中，贝叶斯方法的利用被广泛认为是解决随机过程变化下的各种挑战的可行解决方案，包括电路性能建模、产量/故障率估计和电路优化。随着摩尔之后时代带来新技术（如硅光子学和量子电路），许多相关问题与电子IC设计中遇到的问题相似，可以用贝叶斯方法解决。受到这一观察的启发，我们提出了对电子设计自动化（EDA）中的贝叶斯方法的全面回顾。通过这样做，我们希望为研究人员和设计师提供应用贝叶斯方法解决电子电路及其他领域中的随机问题的能力。
作者：Zhengqi Gao, Duane S. Boning
论文ID：2304.09723
分类：Applications
分类简称：stat.AP
提交时间：2023-04-20