条带多电极高纯锗探测器的单点或多点事件判别：脉冲形状分析方法
摘要：抑制罕见事件检测实验中的背景，本文开发了一套适用于条带多电极高纯锗探测器的单/多点事件脉冲形状判别方法。在228Th的模拟中，该方法实现了2103 keV处SEP事件的7.92倍抑制，1592 keV处DEP事件的57.43\%生存率。通过使用自主开发的条带多电极高纯锗探测器样机测量系统对57Co和137Cs源进行了实验研究，并与模拟结果进行了比较。结果表明，PSD方法对实验波形的判别效果与模拟波形相对一致。使用PSD方法鉴别了76Ge的0νββ背景事件，0νββ事件的生存率为49.16\%，而主要背景事件68Ge和60Co分别为36.23倍和31.45倍。232Th和238U的背景抑制效果分别为4.79倍和5.06倍。结果表明，条带多电极高纯锗探测器可用于单/多点事件判别和背景抑制研究。该方法有望在中国金秉地下实验室未来的0νββ和其他罕见事件测量中得到应用。
作者：Yang Jingzhe, Zeng Zhi, Dai Wenhan, Yang Mingxin, Tian Yang, Jiang Lin, Wen Jingjun, Xue Tao, Zeng Ming and Li Yulan
论文ID：2303.10313
分类：Instrumentation and Detectors
分类简称：physics.ins-det
提交时间：2023-03-21