GEM薄膜中随机电极分区的制备和表征
摘要：随机孔隔离技术简化了分段GEM膜的制造，提高了高电压下的电气稳定性和增益均匀性。在CMS实验的第二阶段GEM升级中，通过测试光束，证明了随机孔隔离技术可以限制探测器在两个分段之间的效率损失，使其成为大面积探测器系统GEM膜制造的可行替代方案。
作者：Antonello Pellecchia, Michele Bianco, Rui De Oliveira, Francesco Fallavollita, Davide Fiorina, Nicole Rosi, Piet Verwilligen
论文ID：2303.06355
分类：Instrumentation and Detectors
分类简称：physics.ins-det
提交时间：2023-07-19