摘要：通过X射线衍射（XRD）在室温下测量了由SuperPower公司制造的大量REBCO导体的倾斜角度。透射电子显微镜（TEM）也用于研究这种倾斜的起源。该文章介绍了测量数据并讨论了测量的不确定性。
作者：Jun Lu, Yan Xin, Yifei Zhang, and Hongyu Bai
论文ID：2302.06753
分类：Superconductivity
分类简称：cond-mat.supr-con
提交时间：2023-05-03
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