了解辐照硅探测器电容测量的频率依赖性
摘要：电容-电压（CV）测量是硅探测器物理学中广泛使用的技术。它直接提供了有关完全耗尽电压和有效掺杂浓度的信息。然而，对于高剂量辐照的传感器，测得的数据与常规形状有明显区别，这使得提取上述参数变得不够精确或不可能。我们提出了对观测到的频率依赖性的解释，并基于此提出了提取所需传感器参数的方法。
作者：Sven M"agdefessel, Riccardo Mori, Niels Sorgenfrei, Ulrich Parzefall
论文ID：2301.09371
分类：Instrumentation and Detectors
分类简称：physics.ins-det
提交时间：2023-01-24