超导体实验临界电流密度和悬浮现象的解释
摘要：一个最近提出的用于计算超导体弛豫率的数值模型被重新审视。这个想法是将该模型扩展到评估文献中报道的临界电流密度JCrit和示例，如悬浮高度Z或稳定性函数，并且原则上也可以扩展到其他依赖于JCrit的变量。该模型估计了在扰动之后需要重新组织超导体电子系统到新的动态平衡所需的弛豫时间。只有在完成这个过程之后，才能唯一验证所报告的JCrit和依赖于JCrit的示例。例如，对于解决与II型超导体的悬浮问题，本研究提出了一系列收敛解，用于悬浮力、悬浮高度和残留（陷阱）磁场。考虑到涉及的众多相互关联的变量，悬浮实验和可能的替代方法（持久电流测量、使用坎文迪什重力或磁悬浮平衡）是实验上证实弛豫对JCrit和Z随时间变化影响的候选方法。这些实验应该在变温下进行，而不是在恒温下进行。
作者：Harald Reiss
论文ID：2212.09333
分类：Superconductivity
分类简称：cond-mat.supr-con
提交时间：2023-06-28