机械变形对超导电流比较器同轴屏蔽体性能的影响
摘要：机械变形对同轴型低温电流比较器（CCC）性能的影响的研究
作者：Nicolas Marsic, Wolfgang F. O. M"uller, Volker Tympel, Thomas St"ohlker, Max Stapelfeld, Frank Schmidl, Matthias Schmelz, Vyacheslav Zakosarenko, Ronny Stolz, David Haider, Thomas Sieber, Marcus Schwickert, Herbert De Gersem
论文ID：2211.11313
分类：Accelerator Physics
分类简称：physics.acc-ph
提交时间：2022-11-22