快中子质子反冲轨迹成像系统：RIPTIDE 探测器
摘要：快中子探测常基于中子-质子弹性散射反应：氢质材料中由反冲质子引起的电离构成了设计和开发一类中子探测器的基本信息。尽管实验技术不断改进，由于需要高光子敏感度，质子反冲径迹成像仍然停留在n-检测系统的前沿。文献中有几种使用n-p单散射和双散射进行中子跟踪的最新方法，称为质子反冲径迹成像（RPTI）。到目前为止，它们在检测效率、复杂性、成本和实施方面都有局限性。为了解决其中一些不足，我们提出了RIPTIDE，这是一种新颖的质子反冲径迹成像探测器，其中由快闪烁体产生的光输出用于对相互作用事件的空间和时间进行完整重建。由于新的科学CMOS相机以及Timepix或MIMOSIS等像素传感器在过去十年中在低噪音和单光子计数方面取得的重大进展，所提出的想法是可行的。在本文中，我们报道了RIPTIDE概念的进展：Geant4蒙特卡洛模拟、光收集测试以及图像读取、处理和快速分析的最新方法。
作者：P. Console Camprini, F. Leone, C. Massimi, A. Musumarra, M.G. Pellegriti, C. Pisanti, F. Romano, R. Spighi, N. Terranova and M. Villa
论文ID：2210.17431
分类：Instrumentation and Detectors
分类简称：physics.ins-det
提交时间：2023-02-08