使用混合像素探测器进行MeV电子的检测
摘要：用320um厚的硅传感器调查了JUNGFRAU探测器在脉冲电子源上的性能。JUNGFRAU最初是为自由电子激光器的X射线探测而开发的，具有每像素120MeV的动态范围（通过像素内增益切换实现），相当于每个像素和帧约1200个入射电子，并且在MeV区域内。我们给出了基本特征，例如入射粒子每单位能量沉积、产生的聚集尺寸和空间分辨率，还有动态范围（强度）的扫描。测量在4、10和20MeV/c下进行。我们将测量结果与基于GEANT4的模拟进行比较，并使用这些模拟结果推广到不同传感器厚度。
作者：E. Fr"ojdh, F. Baruffaldi, A. Bergamaschi, M. Carulla, R. Dinapoli, D. Greiffenberg, J. Heymes, V. Hinger, R. Ischebeck, S. Mathisen, J. McKenzie, D. Mezza, K. Moustakas, A.Mozzanica, B. Schmitt, J. Zhang
论文ID：2210.16199
分类：Instrumentation and Detectors
分类简称：physics.ins-det
提交时间：2022-12-21