用于纳秒级精度的三维沟槽硅传感器的前端电子学

摘要:用于测试和表征快速3D硅传感器的前端电子学的性能展示

作者:Gian Matteo Cossu, Adriano Lai

论文ID:2209.11147

分类:Instrumentation and Detectors

分类简称:physics.ins-det

提交时间:2023-01-05

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