分数可饱和杂质
摘要：分析和数值上研究了分数化对嵌入在一维晶格中的饱和体杂质和表面杂质的影响。我们使用之前由我们引入的分数Laplacian，通过使用晶格格林函数，我们能够获得束缚态能量和幅度分布，作为分数指数s和饱和杂质强度chi的函数，对于表面和体杂质均可。传输以s和chi的函数形式得到，显示出在小的分数指数值时与标准情况的显著偏离。对于体杂质和表面模式，最初局域激发的自陷是 qualitatively 相似的，但在所有情况下，当s趋于0时得到完全的约束，理论上进行了证明并且数值上得到了观察。
作者：Mario I. Molina
论文ID：2209.04074
分类：Pattern Formation and Solitons
分类简称：nlin.PS
提交时间：2022-12-21