高磁场中超导微波谐振器表面损耗的多模分析
摘要：在磁场中（高达10 mT）进行了钛铌（NbTi）超导射频（SRF）腔体的表面阻抗测量。采用一种新颖的方法，利用多个TM腔模的测量结果分解了圆柱形腔体端盖和壁的表面电阻贡献。结果证实，在高磁场中，NbTi SRF腔体的品质因子恶化主要来自于与磁场垂直的表面（腔体端盖），而平行表面电阻（壁）保持相对恒定。这一结果对于需要在强磁场中使用高品质因子腔体的应用（如Axion Dark Matter eXperiment-ADMX）具有积极意义，因为它为开发混合SRF腔体的可能性打开了大门，以替代传统的铜腔体。
作者：T. Braine, G. Rybka, A. A. Baker, J. Brodsky, G. Carosi, N. Du, N. Woollett, S. Knirck, M. Jones
论文ID：2208.11799
分类：Accelerator Physics
分类简称：physics.acc-ph
提交时间：2023-04-05