摘要：PC-Expo：一个实时的可视分析框架，用于全方位的PCP线条模式检测和轴排序
作者：Anjul Tyagi, Tyler Estro, Geoff Kuenning, Erez Zadok, Klaus Mueller
论文ID：2208.03430
分类：Graphics
分类简称：cs.GR
提交时间：2022-10-19
PDF 下载： 英文版 中文版pdf翻译中