锗探测器表面钝化层上α粒子事件的识别和模拟及金属化的影响
摘要：在锗探测器表面的α粒子相互作用事件是锗基搜寻无中微子双-β衰变的背景的主要贡献。表面事件受到电荷俘获的影响，影响其脉冲形状和重建能量。本研究针对分段真同轴n型高纯锗探测器的经过钝化的端板上的α事件进行了研究。详细分析了电荷俘获，并验证了一种已有的脉冲形状分析技术以识别α事件，该技术通过观察分段测试探测器的非采集通道中的镜像脉冲进行了验证。观察到的电荷俘获的径向依赖性证实了先前的结果。首次观察到电荷俘获概率与晶体轴之间的相关性。首次引入了在模拟软件SolidStateDetectors.jl的框架内描述电荷俘获效应的模型。还介绍了金属化对靠近钝化表面的低能γ相互作用事件的影响。
作者：Iris Abt, Christopher Gooch, Felix Hagemann, Lukas Hauertmann, Xiang Liu, Oliver Schulz, Martin Schuster, Anna Julia Zsigmond
论文ID：2206.15265
分类：Instrumentation and Detectors
分类简称：physics.ins-det
提交时间：2022-12-28