研究BTI、HCI和时间零的变异对神经形态脉冲事件生成电路的影响
摘要：神经形态计算是指受大脑启发的计算机，有别于冯·诺伊曼架构。基于模拟VLSI的神经形态电路是当前的研究兴趣。其中两个简化的脉冲积分与火焰神经元模型，即轴突-希罗克(AH)和电压积分、发火(VIF)电路，常用于产生脉冲事件。本文讨论了偏压温度不稳定度(BTI)和热载流子注入(HCI)以及时零变异性对这些基于CMOS的神经形态电路的影响。使用基于HKMG的45nm技术实现了AH和VIF电路。对于可靠性分析，使用了行业标准的Cadence RelXpert工具。对于时零变异性分析，进行了1000次蒙特卡洛模拟。
作者：Shaik Jani Babu, Rohit Singh, Siona Menezes Picardo, Nilesh Goel, and Sonal Singhal
论文ID：2205.10152
分类：Emerging Technologies
分类简称：cs.ET
提交时间：2022-05-23