超快速XUV辐照后小分子中的意外偶极不稳定性
摘要：在极紫外脉冲的影响下，我们研究了小分子中单电子态的耗尽。在氮气中，对于大约50电子伏特的XUV能量窗口，我们观察到了显著的占据倒置，即最深的价电子态的耗尽远远大于其他任何状态。这代表了一个现实的机制，能够几乎瞬间地在深层态中形成一个空穴，这种情况在许多理论研究中通常是随意假设的。此外，这种占据倒置还驱动了一个偶极不稳定性，即激光脉冲结束和偶极信号消失后，偶极信号会在很长时间之后自发重新出现。从这种不稳定性中出现的偶极信号可以被识别为光电子谱中的特定低能量结构。
作者：Paul-Gerhard Reinhard, Daniel Dundas, Phuong Mai Dinh, Marc Vincendon, Eric Suraud
论文ID：2205.09997
分类：Atomic and Molecular Clusters
分类简称：physics.atm-clus
提交时间：2023-03-01