自适应稀疏采样用于准粒子干涉成像
摘要：自适应稀疏采样 (ASS) 方法在逐步积累稀疏采样的局部态密度 (LDOS) 测量值，直到通过压缩感知恢复达到所需的质量水平。迭代测量的随机子集 LDOS 可以与用于图像注册和漂移校正的常规拓扑图像交错。这些参考拓扑图像还可以用于恢复中断的测量，以进一步提高 QPI 质量。我们的 ASS 方法是准粒子干涉成像的一个便捷扩展，应该消除在稀疏采样映射方案实施中进一步犹豫的障碍。
作者：Jens Oppliger, Berk Zengin, Danyang Liu, Kevin Hauser, Catherine Witteveen, Fabian von Rohr, Fabian Donat Natterer
论文ID：2204.04475
分类：Other Condensed Matter
分类简称：cond-mat.other
提交时间：2023-01-06