使用(CO)$_2$二聚体离解研究一氧化碳二阳离子寿命
摘要：碰撞低能Ar$^{9+}$离子引起的一氧化碳二聚体的碎裂现象是通过使用COLTRIMS技术进行研究的。二聚体中的邻近分子的存在在这里被用作探测由碰撞引起的$ m CO^{2+}$分子二正离子的寿命的诊断工具。实验证据清楚地表明，存在寿命从2 ps到200 ns范围的亚稳态，通过二聚体的顺序3体碎裂来实验验证，而快速解离通道则在所谓的共同3体碎裂过程中观察到。快速碎裂过程导致了动能释放分布，这也在与单体CO靶击中观察到。与一项早期研究的结论不符，该结论将这个快速过程归因于邻近分子离子引起的扰动。
作者：A. M''ery (1), X. Fl''echard (2), S. Guillous (1), V. Kumar (1), M. Lalande (1), J. Rangama (1), W. Wolff (3) and A. Cassimi (1) ((1) CIMAP, CEA-CNRS-ENSICAEN-UNICAEN, Normandie Universit''e, France, (2) Normandie Univ, ENSICAEN, UNICAEN, CNRS/IN2P3, LPC Caen, France, (3) Instituto de F''isica - Universidade Federal do Rio de Janeiro, Cidade Universit''aria, Rio de Janeiro, Brazil)
论文ID：2107.08954
分类：Atomic and Molecular Clusters
分类简称：physics.atm-clus
提交时间：2021-11-03