基于铁电场效应晶体管和突触装置的高能效计算技术

摘要:CMOS电子器件中铁电特性的技术利用:整合、优化和建模的挑战与机遇

作者:David Esseni, Riccardo Fontanini, Daniel Lizzit, Marco Massarotto, Francesco Driussi, Mirko Loghi

论文ID:2105.00864

分类:Emerging Technologies

分类简称:cs.ET

提交时间:2021-05-04

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