用于偏置随机仿真以快速覆盖AMS设计中角点案例的方法
摘要：探索模拟和混合信号（AMS）电路的极限通过驱动适当的输入一直是该行业面临的重大挑战。对整个输入状态空间进行详尽搜索是一项耗时的任务，而收益与努力的比例相当低。为了满足上市时间要求，通常会利用集成电路（IC）的次优覆盖结果。此外，还没有定义可以用来识别连续状态空间中的目标的标准，以便可以使用一些启发式方法指导搜索算法。在本报告中，我们详细介绍了两种解决这个挑战的方法 - 一种基于电路的频域分析，另一种应用了贝叶斯优化的概念。我们还通过将这两种方法应用于工业级LDO和一些AMS基准电路来展示了我们的结果。
作者：Sayandeep Sanyal, Ayan Chakraborty, Pallab Dasgupta, Aritra Hazra
论文ID：2104.14785
分类：Formal Languages and Automata Theory
分类简称：cs.FL
提交时间：2021-05-03