利用强烈的X射线脉冲进行高分辨率和元素对比的荧光强度相关成像
摘要：亚氏集群和钼掺杂氧化铁纳米颗粒在强度、飞秒和亚飞秒XFEL脉冲作用下的荧光强度相关性（FIC）被理论上研究，用于高分辨率和元素对比成像。我们展示了亚氏集群中{Ka}和{Kah}发射的FIC，并讨论样品损伤对获取高分辨率结构信息的影响，并将所获得的结构信息与相干衍射成像（CDI）方法进行比较。我们发现，亚飞秒脉冲对CDI方法有很大的好处，而几飞秒脉冲可能已足够实现具有FIC的高分辨率信息。此外，我们还展示了从钼掺杂氧化铁纳米颗粒中的钼原子的荧光强度相关性可以用于成像掺杂分布。
作者：Phay J. Ho, Christopher J. Knight, Linda Young
论文ID：2103.15872
分类：Atomic and Molecular Clusters
分类简称：physics.atm-clus
提交时间：2021-03-31