低Q$^2$下的弹性正电子-质子散射
摘要：弹性轻子散射的测量方法的系统差异导致对质子的电荷半径重新产生了兴趣。质子的电荷半径定义为在Q$^2$=0处电荷形式因子的斜率，不依赖于探测器。从普通氢和 Muonic 氢测量的质子表观尺寸的任何差异都可能指向新物理或需要更高阶的修正。虽然最近的测量结果似乎已经达成一致，但迄今为止尚无同时使用电子和正电子进行高精度弹性散射数据的实验。在Jefferson Lab的B馆，利用正电子束和PRad实验的基于量热计的装置，可以进行高精度的质子半径测量。这一测量方法也可以扩展到氘核，在 muonic 和 electronic 测量氘核电荷半径之间观察到类似差异。通过与电子散射测量和即将进行的 MUSE Muon 散射测量并行考察，利用正电子进行的新型高精度测量有助于揭示质子半径之谜的起源，并为辐射修正计算提供新的实验限制。
作者：Tyler J. Hague, Dipangkar Dutta, Douglas W. Higinbotham, Xinzhan Bai, Haiyan Gao, Ashot Gasparian, Kondo Gnanvo, Vladimir Khachatryan, Mahbub Khandaker, Nilanga Liyanage, Eugene Pasyuk, Chao Peng, Weizhi Xiong, and Jingyi Zhou
论文ID：2102.11449
分类：Nuclear Experiment
分类简称：nucl-ex
提交时间：2021-07-08