采用全反射X射线荧光法量化空气中颗粒物的特殊性
摘要：大气颗粒物（PM）的时间和大小分布以及其元素组成的认识是源头归因、对环境过程影响的调查和为气候模型提供有效数据的关键信息。要实现正确地识别人为和自然排放物，需要实现几小时的大小分选采样时间。虽然级联撞击器可以对空气中的PM进行时间和大小分辨采样，但全反射X射线荧光（TXRF）由于其检测灵敏度，可以对样品量低进行元素敏感的研究。然而，在通过TXRF进行定量分析时，了解TXRF的限制情况非常重要，以确定采样时间或污染水平过长或过高的情况。通过浅入射X射线荧光（GIXRF）展示了不同的反射条件，并可以进行元素质量沉积的自洽定量分析，从而验证或确定通过TXRF进行定量分析的问题。此外，介绍了通过TXRF可靠定量颗粒物元素组成的有效性监测器。所提出的方法论可以应用于台式设备，以保证元素敏感的PM采集的可靠定量。这一方面对于制定适当的健康和气候保护立法和措施，以及支持其执行和监测非常重要。
作者：Yves Kayser, J''anos Os''an, Philipp H"onicke, Burkhard Beckhoff
论文ID：2101.09757
分类：Atmospheric and Oceanic Physics
分类简称：physics.ao-ph
提交时间：2021-09-08